Attribution
W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
Langue d’origine: allemand
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- Acheteur
- Forschungszentrum Jülich GmbH
- Titulaires
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
- Montant du marché
- 216 000 €
- Offres reçues
- 1
- Publié le
- 18 févr. 2026
- Région
- Düren
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