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Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes

Name: Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Creator: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Published: 2026-03-10
License: https://ted.europa.eu/en/simap/legal-notice

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Acheteur: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Titulaires: attocube systems GmbH
Montant du marché: 219 340 €
Publié le: 10 mars 2026
Attribution: 10 mars 2026
Début d'exécution: 10 mars 2026
Fin du marché: 9 juil. 2026estimée
Secteur: Équipements de laboratoire et d’optique
Région: Jena, Kreisfreie Stadt
Source: Avis d'origine sur TED (168375-2026)

Autres attributions de cet acheteur

Attribution	Acheteur	Titulaire	Montant du marché	Publié le
Micro-Transfer-Printing-System	Friedrich-Schiller-Universität Jena	X-Celeprint Limited	248 500 €	28 août 2026
Ultrakurzpulslaser	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Amplitude	199 670 €	28 août 2026
Rechenpartition (HPC-Hardware)	Friedrich-Schiller-Universität Jena	sysGen GmbH	290 995 €	26 août 2026
managed print service	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Weinrich	3 072 300 €	26 août 2026
Rechenpartition (HPC-Hardware)	Friedrich-Schiller-Universität Jena	sysGen GmbH	149 685 €	26 août 2026
Storage Erweiterung	Friedrich-Schiller-Universität Jena	Bechtle GmbH & Co. KG	558 450 €	18 août 2026