Gunning
W10-42390699 XHR-CFE-SEM-STEM-System: Plattform für hochauflösende Elektronenmikroskopie und analytische Spektroskopie für das ER-C-1.
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- Aanbestedende dienst
- Forschungszentrum Jülich GmbH
- Opdrachtnemers
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
- Opdrachtwaarde
- € 216.000
- Ontvangen inschrijvingen
- 1
- Gepubliceerd
- 20 feb 2026
- Regio
- Düren
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