Zuschlag

Clustertool for Ion Beam Etching of 300mm wafers

Name: Clustertool for Ion Beam Etching of 300mm wafers
Creator: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
Published: 2026-07-08
License: https://ted.europa.eu/en/simap/legal-notice

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Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
Auftragnehmer: scia Systems
Auftragswert: 1 €
Angebote: 1
Veröffentlicht: 8. Juli 2026
Zuschlag: 2. Juli 2026
Vertragsbeginn: 2. Juli 2026
Vertragsende: 3. März 2027geschätzt
Branche: Industrielle Maschinen
Region: Dresden, Kreisfreie Stadt
Quelle: Originalbekanntmachung bei TED (476033-2026)

Weitere Zuschläge dieses Auftraggebers

Zuschlag	Auftraggeber	Auftragnehmer	Auftragswert	Veröffentlicht
Lot 2: Design for Test	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	WA Consultants Limited	621.440 €	6. Okt. 2026
Lot 1: Functional Verification	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	WA Consultants Limited	600.992 €	6. Okt. 2026
Gefahrstoffentsorgung	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	REMONDIS Industrie Service GmbH & Co. KG	—	23. Sept. 2026
Batteriezellenentsorgung	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	REMONDIS Industrie Service GmbH & Co. KG	—	23. Sept. 2026
ContentServer Development and Marketing	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	LER Technologies GmbH	1.201.120 €	1. Sept. 2026
Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems	Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.	ATV Systems GmbH	1 €	7. Juli 2026