Zuschlag

Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl (FIB-SEM)

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Auftragswert
kein Wert veröffentlicht
Angebote
1
Veröffentlicht
20. Aug. 2026
Zuschlag
30. Juli 2026
Vertragsbeginn
30. Juli 2026
Vertragsende
28. Nov. 2026geschätzt

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