Titulaire

SPECS Surface Nano Analysis GmbH

Berlin · DEU

Suivre cette ficheAvec Adjudera Pro, soyez alerté avant qu’un marché n’arrive à échéance.

Attributions

8

Montant total attribué

4,1 M €

1 attribution(s) conjointe(s) comptée(s) au prorata

Acheteurs publics

8

Secteurs

3

USt-IdNr. DE136564155

Marchés de ce titulaire arrivant à échéance

Tous les marchés arrivant à échéance →

Attributions

AttributionAcheteurTitulaireMontant du marchéPublié le
Nabava in dobava opreme za Center za analitiko trdnih snovi SKLOP 2: Oprema za rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo za delo pri skoraj atmosferskem tlaku (NAP-XPS)UNIVERZA V MARIBORUSPECS Surface Nano Analysis GmbH2 200 000 €20 oct. 2026
Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy System for Energy Materials CharacterizationTechnische Universiteit EindhovenSPECS Surface Nano Analysis GmbH—15 oct. 2026
Suministro e instalación de mejora del equipo de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, destinado al Instituto de Tecnología Química de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.Secretaría General de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones CientíficasSPECS Surface Nano Analysis GmbH280 600 €10 mars 2026
Fornitura ed installazione di n.1 analizzatore emisferico per elettroni, n.1 camera sperimentale da ultra-alto vuoto per misure di spettroscopia fotoelettronica, n.1 sorgente UV per UPS, n.1 sorgente X a doppio anodo per XPS.CNR - AREA TERRIROIRIALE DI RICERCA DI ROMA 2 TOR VERGATASchaefer SEE Srl, SPECS Surface Nano Analysis GmbH561 284 €11 janv. 2026
Dostawa stanowiska doświadczalnego do czasowo i kątowo rozdzielczej fotoemisjiNarodowe Centrum Badań JądrowychSPECS Surface Nano Analysis GmbH5 810 933 PLN26 nov. 2025
X1(AP) XPS SystemFraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT Steinbachstr. 15, 52074 Aachen, GermanySPECS Surface Nano Analysis GmbH1 079 000 €15 août 2025
FORNITURA DI UNA CAMERA PER SPETTROSCOPIA HAXPESConsiglio Nazionale delle RicercheSPECS Surface Nano Analysis GmbH270 000 €30 juin 2025
Fourniture et installation d'un Instrument de métrologie par spectroscopie de photoélectrons X (XPS) pour le contrôle en ligne de l’épaisseurCommissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternativesSPECS Surface Nano Analysis GmbH—26 mai 2025